Rohde & Schwarz verifica o projeto de referência do sensor de radar automotivo da NXP
O simulador de alvo de radar R&S RTS, solução de radar automotivo da Rohde & Schwarz, que tem capacidade de simular eletronicamente objetos de alcance muito próximo, foi usado para verificar o desempenho do projeto de referência do sensor de radar de próxima geração da NXP Semiconductors. Esta colaboração permite à indústria automotiva dar mais um passo no desenvolvimento do radar automotivo, a principal tecnologia que permite sistemas avançados de assistência ao condutor (ADAS) e funcionalidades de condução autônoma.
Engenheiros de ambas as empresas conduziram uma série abrangente de testes para verificar o novo projeto de referência do sensor que é baseado no chip de radar em um SoC (SAF85xx) RFCMOS de 28 nm da NXP. O sistema de teste de radar R&S RTS combina o gerador de eco de radar automotivo R&S AREG800A com o front-end de antenas mmW R&S QAT100, oferecendo recursos exclusivos de simulação de objetos de curta distância, bem como desempenho de RF superior e processamento de sinal avançado com muitas funções avançadas. Isto permite testes realistas de aplicações de radar automotivo da próxima geração e aproxima um passo mais a visão da indústria automotiva de direção totalmente autônoma.
O projeto de referência do sensor de radar automotivo de próxima geração da NXP é possibilitado pelo primeiro chip de radar em um SoC RFCMOS de 28 nm do setor, aproveitando o sistema de teste de radar R&S RTS. O projeto de referência do sensor de radar pode ser usado para aplicações de radar de curto, médio e longo alcance para atender aos desafiadores requisitos de segurança do NCAP (NCAP: New Car Assessment Program), bem como funções de conforto, como piloto automático urbano ou em rodovias para o segmento de rápido crescimento de Veículos L2+ e L3.
O R&S RTS é o único sistema de teste adequado para caracterização completa de sensores de radar e geração de eco de radar com distâncias de objetos até o valor do entreferro do radar em teste. Ele combina o gerador de eco de radar automotivo R&S AREG800A como backend e o conjunto de antenas R&S QAT100 ou o R&S AREG8-81S como frontend. A solução de teste tecnicamente superior é adequada para todo o ciclo de vida do radar automotivo, incluindo laboratório de desenvolvimento, hardware-in-the-loop (HIL), veículo-in-the-loop (VIL), validação e requisitos de aplicação de produção. A solução também é totalmente escalável e pode emular os cenários de tráfego mais complexos para sistemas avançados de assistência ao condutor.
“Há muitos anos colaboramos estreitamente e com sucesso com a Rohde & Schwarz na verificação de nossos projetos de referência de sensores de radar automotivos. Os sistemas de teste de radar automotivo de última geração da Rohde & Schwarz nos permitem validação de alta qualidade e altamente eficiente de nossos produtos de radar automotivo e comprovam o excelente desempenho de nosso radar de chip único. O nível de experiência, qualidade e suporte que a Rohde & Schwarz oferece à NXP está fazendo a diferença”, afirma Adi Baumann, diretor sênior de P&D de ADAS, da NXP Semiconductors.
“Somos gratos pela colaboração com a NXP para acelerar a implementação de sensores avançados de radar automotivo baseados em chips de radar automotivo de 28 nm. Eles atendem aos requisitos de segurança cada vez mais desafiadores do NCAP e ajudarão a viabilizar novas aplicações de segurança. Nossa experiência em testes de radar automotivo nos permite fornecer a melhor solução de teste da categoria para esse projeto de sensor de radar baseado no primeiro chip de radar em um SoC RFCMOS de 28 nm na indústria”, diz Gerald Tietscher, vice-presidente de Geradores de Sinais, Fontes de Alimentação e Medidores da Rohde & Schwarz. (foto/divulgação)
